簡要描述：kett L-500膜厚計(jì)涂層測厚儀是一種內(nèi)置打印功能的涂鍍層測量儀。由于測量數(shù)據(jù)可以現(xiàn)場打印，因此可以直接將打印紙粘貼到被測量對象或被測量位置來進(jìn)行現(xiàn)場數(shù)據(jù)管理。與此儀器共同開發(fā)的新型探頭具有比以往型號(hào)更高的測量精度，并提高了耐磨性。機(jī)身外形易于單手握持，配備高像素的大顯示屏，無需打印即可查看統(tǒng)計(jì)結(jié)果，適用于多種環(huán)境。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2023-11-27訪 問 量：535kett L-500膜厚計(jì)
●內(nèi)置打印機(jī)不僅可以在測量過程中打印，還可以單獨(dú)打印已存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)，或者打印每個(gè)區(qū)塊的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。如果不需要，也可以關(guān)閉打印功能。
●大型高像素顯示屏相比其他型號(hào)的產(chǎn)品能顯示更詳細(xì)的調(diào)整步驟，并更加清楚的查看結(jié)果。此外，儀器還提供多檔背光功能，可適用于不同黑暗的環(huán)境當(dāng)中。
探頭（探頭為必需品）●應(yīng)用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存至探頭與以往不同，應(yīng)用數(shù)據(jù)將儲(chǔ)存至探頭，而不再是主機(jī)。每個(gè)探頭*多存儲(chǔ)50種應(yīng)用數(shù)據(jù)（調(diào)整數(shù)據(jù)、基體校零數(shù)據(jù)、應(yīng)用程序名稱和上下限設(shè)置）。即使關(guān)閉電源，儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)也不會(huì)丟失，因此同一應(yīng)用再次測量時(shí)，無需進(jìn)行調(diào)整。
●方便握特的機(jī)身我們對機(jī)身的形狀及尺寸再次進(jìn)行深入的研究，使其更加方便單手握持·可適用于各種復(fù)雜的測量環(huán)境。另外，使用配套的同帶更可以騰出雙手，更好的在高空測量環(huán)境中保持身體的平穩(wěn)。屏幕也設(shè)計(jì)為即使在傾斜的角度也可清晰的查看。
●一體式探頭支架我們在機(jī)身的側(cè)面設(shè)計(jì)了一體式的探頭支架，這樣可以防止探頭磨損及誤觸測量。
●區(qū)塊/分組的功能在數(shù)據(jù)管理中，如果將測量數(shù)據(jù)分為測量現(xiàn)場、測量批次、測量對象等，并將其設(shè)置為不同的“區(qū)塊"、“分組"和“應(yīng)用"，這樣可以獲得更詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。通過“區(qū)塊數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)"和“分組數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)"，可以立即獲得所需的數(shù)據(jù)結(jié)果·避免復(fù)雜的人工記錄。
●其他更加便利的功能內(nèi)置強(qiáng)大的測量數(shù)據(jù)管理功能，包括數(shù)據(jù)外部輸出、測量單位切換、超時(shí)自動(dòng)關(guān)機(jī)，背光設(shè)置、上限和下限設(shè)置，以及打印清晰度設(shè)置。
kett L-500膜厚計(jì)主要規(guī)格：
| 測量方法 | 電磁感應(yīng)式或渦流式 |
| 測量對象 | 磁性金屬上的非磁性涂層或非磁性金屬上的絕緣涂層 |
| 測量范圍 | 電磁感應(yīng)式 (EP-100) : 0 至 2,500 μm 或 99.0 mils 渦流式 (HP-100) : 0 至 1,200 μm 或 47.0 mils |
| 測量精度 | 電磁感應(yīng)式 (EP-100) : 小于 15 μm: ± 0.3 μm, 大于15 μm 或1,000小于 μm: ± 2%, 大于1,000 μm: ± 3% 渦流式 (HP-100) : 小于50μm：±1.0μm，大于50μm：±2% |
| 解析度 | 小于100μm以下：0.1μm，大于100μm：1μm |
| 符合標(biāo)準(zhǔn) | 電磁感應(yīng)式：JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、/ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840/ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376 渦流式: JIS K5600-1-7, JIS H8680-2, JIS H8501 / ISO 2808, ISO 2360, ISO 2064, ISO 19840 / ASTM B 244, ASTM D 7091, ASTM E 376 |
| 統(tǒng)計(jì)功能 | 測量次數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、Z大值、Z小值、區(qū)塊、分組 |
| 探頭 | 一點(diǎn)接觸恒壓型（EP-100、HP-100） |
| 顯示方式 | 數(shù)字（LCD，Z小顯示位數(shù) 0.1 μm） |
| 外部輸出 | USB串口 |
| 電源 | AC100-240V或電池1.5V（AA堿性）x 8（用于主機(jī)x 4，打印機(jī)部分x 4） |
| 尺寸重量 | 126 (W) x 256 (D) x 93 (H) 毫米, 750g |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 鐵基體（EP-100用）、鋁基體（HP-100用）、標(biāo)準(zhǔn)片（10 μm、50 μm、100 μm、500 μm、1000 μm、1500 μm，所有近似值，各1個(gè)），電池1.5V （AA 堿性）AC 適配器、電源線、探頭適配器、表帶、打印紙、表面保護(hù)膜、標(biāo)準(zhǔn)片盒、便攜包、簡易調(diào)節(jié)指南、使用說明書 |
| 選項(xiàng) | 標(biāo)準(zhǔn)片（除附件外的厚度）、膜厚儀測量臺(tái)LW-990、校準(zhǔn)（校準(zhǔn)證書、校準(zhǔn)報(bào)告、追溯系統(tǒng)圖） |
